當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 光譜分析測試 > 熒光光譜/熒光壽命
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
ISS K2系列熒光/磷光光譜儀為研究者提供了一種結(jié)構(gòu)穩(wěn)固,性能優(yōu)良的儀器平臺,以滿足對熒光和輝光領(lǐng)域的應(yīng)用。
ISS PC1熒光光譜儀是一款高靈敏度,高集成,計算機(jī)控制的光子計數(shù)熒光光譜儀,廣泛應(yīng)用于物理化學(xué),生物化學(xué),生理學(xué),神經(jīng)化學(xué),分子生物,環(huán)境分析和免疫測定等科研領(lǐng)域。
Chronos系列穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀是可進(jìn)行時域和頻域兩種測試方式的熒光分析儀,此系列熒光分析儀無論是光路設(shè)計,測試精度,還是儀器自動化控制系統(tǒng),都達(dá)到了世界ding尖水準(zhǔn)。
美國ISS是jin有的能同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案的公司,其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊,可以讓您現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測試功能,可適配各種顯微鏡。
半導(dǎo)體技術(shù)的一個重要目標(biāo)是減少所有構(gòu)成半導(dǎo)體器件中,晶體和非晶層中固有的和因生產(chǎn)工藝引起的缺陷。雜質(zhì)、晶界、晶面等引起的缺陷會導(dǎo)致陷阱的產(chǎn)生,陷阱可以俘獲自由電子和空穴。即使?jié)舛确浅5?,陷阱也能ji大地改變半導(dǎo)體器件的性能。數(shù)字化深能級瞬態(tài)譜儀DLTS是現(xiàn)在一種非常通用的技術(shù),可用于測定與陷阱相關(guān)的幾乎所有參數(shù),包括密度、熱界面(熱發(fā)射率)、能級和空間剖面等。
聯(lián)系我們
北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司 公司地址:北京石景山中海大廈CD座420室 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)掃一掃 更多精彩
微信二維碼
網(wǎng)站二維碼