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11-12
SEM掃描電鏡作為一種強(qiáng)大的顯微分析工具,其高分辨率成像能力和廣泛的應(yīng)用前景使其在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中扮演著越來(lái)越重要的角色。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,我們有理由相信,SEM將在未來(lái)的科技發(fā)展中發(fā)揮更大的作用,為人類探索未知世界提供更加準(zhǔn)確的視角和手段。SEM掃描電鏡(SEM)的維護(hù)保養(yǎng)是確保其正常運(yùn)行和延長(zhǎng)使用壽命的關(guān)鍵:1.電子光學(xué)系統(tǒng)的清洗-清洗頻率:每次更換燈絲時(shí),柵帽、柵帽光闌固定圈都要清洗,不必每次都要清洗物鏡光闌柄。當(dāng)見到明顯的污染及圖象象散過大時(shí),就要清洗物鏡光闌柄...
11-7
最近,北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司在國(guó)內(nèi)某大型企業(yè)研發(fā)中心安裝交付了美國(guó)ISS公司生產(chǎn)的新型穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀系統(tǒng)PC1-Chronos,測(cè)試結(jié)果和測(cè)試速度深得用戶稱贊。針對(duì)客戶的應(yīng)用,本系統(tǒng)配置了ISS公司最新的數(shù)字式TCSPC子系統(tǒng)用以測(cè)試TRPL時(shí)間分辨光致發(fā)光應(yīng)用,采用連續(xù)變頻皮秒脈沖激光器以及小于20暗計(jì)數(shù)的熱電致冷PMT探測(cè)器,TRPL熒光壽命測(cè)試范圍覆蓋50皮秒到數(shù)秒只需此同一硬件和軟件。用戶的鈣鈦礦薄膜樣品從手套箱中制備完成,以前的類似測(cè)試,數(shù)據(jù)采集需要數(shù)分鐘完成...
11-5
在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,電子顯微鏡技術(shù)已經(jīng)成為了不可少的工具。其中,掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱SEM)以其特殊的成像方式和廣泛的應(yīng)用范圍,成為了材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)學(xué)科研究的重要手段。SEM掃描電鏡是利用電子與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌信息的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的透射電鏡不同,通過掃描電子束照射到樣品表面,并收集從樣品反射回來(lái)的二次電子或背散射電子信號(hào),從而獲得高分辨率的表面圖像。這種非破壞性的分析方...
10-16
臺(tái)式掃描電鏡的維護(hù)保養(yǎng)方法主要包括對(duì)電子槍、鏡筒、真空系統(tǒng)等關(guān)鍵部件的定期清潔和檢查,以及對(duì)環(huán)境條件的嚴(yán)格控制。1.電子槍的維護(hù)-燈絲的保養(yǎng):燈絲是電子槍的重要組成部分,其狀態(tài)直接影響到圖像質(zhì)量和設(shè)備性能。用戶應(yīng)定期觀察燈絲的飽和程度,并適當(dāng)調(diào)整燈絲電流,確保其在飽和狀態(tài)下工作。同時(shí),避免在燈絲未關(guān)閉的情況下進(jìn)行操作,以防燈絲熔斷。-柵極光闌的清洗:柵極光闌是電子槍中容易受到污染的部分。用戶應(yīng)定期使用金屬拋光液或超聲波清洗方法對(duì)其進(jìn)行清潔,以去除鎢陰極蒸汽和氧化物等污染物。2...
10-9
臺(tái)式掃描電鏡是一種強(qiáng)大的科學(xué)工具,用于觀察和分析微小物體的結(jié)構(gòu)和形貌。1.基本原理:使用電子來(lái)觀察小物體,而不是光。其內(nèi)部包含一個(gè)電子源,通過高電壓加速電子,形成一個(gè)聚焦的電子束。這個(gè)電子束經(jīng)過一系列電磁透鏡的聚焦,打在樣品上。當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生各種信號(hào),如二次電子、背散射電子等,這些信號(hào)被探測(cè)器接收并處理,從而獲得樣品表面的圖像。2.組成部分:臺(tái)式掃描電鏡的主要組件包括電子發(fā)射系統(tǒng)、電磁透鏡、信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)。電子發(fā)射系統(tǒng)負(fù)責(zé)產(chǎn)生電子束;...
9-10
臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強(qiáng)大的科學(xué)工具,它通過探測(cè)樣品表面反射的電子來(lái)提供樣品的形貌和成分信息。選擇和操作這種復(fù)雜設(shè)備需要一系列的考量和具體步驟,以確保獲取準(zhǔn)確和可靠的數(shù)據(jù)。1.選購(gòu)臺(tái)式掃描電子顯微鏡的考量因素-空間與預(yù)算限制:考慮到實(shí)驗(yàn)室空間可能有限,立式SEM通常需要更多空間。如果經(jīng)費(fèi)有限,立式SEM所需額外投入如電磁屏蔽平臺(tái)的成本也較高。-使用便利性:對(duì)于頻繁使用設(shè)備的實(shí)驗(yàn)室,臺(tái)式SEM因其較小的體積和易于操作的特性而更受歡迎。-性能需求:不同的研究項(xiàng)目可能需...
9-3
臺(tái)式掃描電子顯微鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱DesktopSEM)是一種小型化、低成本的。它與傳統(tǒng)的大型掃描電子顯微鏡在原理上相似,但體積更小、操作更簡(jiǎn)便,適用于實(shí)驗(yàn)室、教育、研發(fā)等領(lǐng)域,使得原本只能在專業(yè)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的微觀觀察和分析變得更加普及和便捷。是一種利用電子束掃描樣品表面,通過收集樣品表面產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào),經(jīng)過處理后得到樣品表面形貌、成分等信息的顯微分析儀器。SEM具有分辨率高、放大倍數(shù)大、景深長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),...
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